粉體和顆粒的關系
2023-08-21
粉體和顆粒的關系是：粉體是固體顆粒的集合體，具有一般固體的基本性能，如固體的力學性能、電學性能、光學性能、磁學性能等。而顆粒是粉體中的單個單元，具有自己的基本性質，如顆粒大小、形狀、密度、流動性等。顆粒大小是粉體重要的性質之一，對粉體的其他性質如流動性、填充性、穩(wěn)定性等都有影響。粉體和顆粒在生產(chǎn)、應用和性質上都有很大的區(qū)別。
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粉體的基本性能特征
2023-08-21
粉體是由許多小顆粒物質組成的集合體，可以是由許多小顆粒物質組成的集合體，也可以是粉碎或合成制得的材料。粉體具有一些基本性能特征，包括流動性、成形性、再分散性、引濕性、透氣性、粘結性和黏附性等。粉體廣泛應用于工業(yè)生產(chǎn)中，如涂料、顏料、食品、醫(yī)藥、化妝品和膠體等領域。
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方塊電阻的功能及應用概述
2023-08-21
方塊電阻的功能及應用概述 方塊電阻在半導體器件和材料的研究和生產(chǎn)中應用廣泛。例如，在涂層和薄膜半導體材料的電阻率測量中，方塊電阻測試儀可以用于測量樣品的電導率和電阻率，以及材料的載流子濃度和遷移率等參數(shù)。這些參數(shù)對于評估材料的質量和控制生產(chǎn)過程非常重要。 此外，方塊電阻測試還可以用于研究半導體材料中的界面反應和載流子輸運機制等科學問題。在太陽能電池領域，方塊電阻測試也用于分析光伏材料的性能，如硅片和薄膜太陽能電池。
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方塊電阻測試原理
2023-08-21
方塊電阻又稱膜電阻，是用于間接表征薄膜膜層、玻璃鍍膜膜層等樣品上的真空鍍膜的熱紅外性能的測量值。這個數(shù)值可以用來計算熱紅外輻射率。方塊電阻的大小與樣品尺寸無關，其單位為Siements/sq，也可以用歐姆/sq表示。
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壓實密度測試方法
2023-08-20
壓實密度測試方法，壓實密度測試是用于測量材料在壓實或壓縮后的密度的一種實驗方法。該測試方法對于評估材料的性能和壓縮后的效果具有重要意義，尤其在粉末冶金、陶瓷材料和電池行業(yè)等領域中廣泛應用。 壓實密度測試的方法有很多種，以下是幾種常見的壓實密度測試方法：
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顆粒強度測試方法
2023-08-20
顆粒強度測試方法，顆粒強度測試是用于測量顆粒材料的強度特性的方法。顆粒材料可以是塑料、陶瓷、玻璃、礦物等，其強度特性對于產(chǎn)品的性能和使用壽命都有重要影響。 顆粒強度測試方法有多種，其中包括間接測試方法和直接測試方法。
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高溫電阻率測試方法
2023-08-20
高溫電阻率測試方法，，高溫條件下的電阻率測試需要選擇合適的溫度范圍和測試條件，以保證測試結果的準確性和可靠性。同時，測試前需要對樣品進行預處理，如研磨、清洗等，以消除樣品表面的雜質和缺陷對測試結果的影響。
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體積電阻率測試方法
2023-08-20
體積電阻率測試方法，體積電阻率 ρ 是指通過電介質或絕緣材料中的單位體積的絕緣電阻值，它通常用于表示電介質的電性能。單位為歐·米。 體積電阻率的測試方法主要有兩種：四電極法和兩電極法。
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表面電阻測試方法及標準
2023-08-20
表面電阻又稱表面比電阻，是表征電介質或絕緣材料電性能的一個重要數(shù)據(jù)，它代表每平方面積電介質表面對正方形的相對二邊間表面泄漏電流所產(chǎn)生的電阻。對于一個均勻的電介質，表征其表面電阻的物理量與材料固有的體積電阻率存在一定的聯(lián)系。在實際應用中，表面電阻的測試方法主要有平行電極法、同心圓電極法和四探針法。
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方塊電阻測試方法
2023-08-20
方塊電阻測試方法，方塊電阻又稱膜電阻，是用于間接表征薄膜膜層、玻璃鍍膜膜層等樣品上的真空鍍膜的熱紅外性能的測量值，該數(shù)值大小可直接換算為熱紅外輻射率。方塊電阻的大小與樣品尺寸無關，其單位為Siements/sq，后增加歐姆/sq表征方式，該單位直接翻譯為方塊電阻或者面電阻，用于膜層測量又稱為膜層電阻。
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